外国の審査情報等へのアクセスが容易に

J-PlatPat（特許情報プラットフォーム）にワン・ポータル・ドシエの機能が追加され、パテントファミリーやその審査状況等の情報が得られるようになりました。これまでもEspacenet（ヨーロッパ特許庁のサイト）やUSPTOのサイトを利用してパテントファミリーの審査状況等を調べることはできましたが、例えば出願番号や公開番号の入力形式（「ー」や「／」の有無等）がまちまちだったり、審査情報をどのようにして見ることができるのかわかりにくかったりして使いにくい面があり、慣れていない人にとっては若干ハードルが高かったかもしれません。J-PlatPatにワン・ポータル・ドシエの機能が追加されたことでパテントファミリーの情報にアクセスしやすくなりそうです。

特許調査への利用

ところでパテントファミリーの情報を調べる目的としては、自身が担当する案件の外国における審査状況の把握や、競合他社の動向調査等が考えられますが、先行技術文献調査にも有用です。

外国の審査で引用された文献を調べる

例えば、先行技術文献調査で調査対象の発明に近い内容が記載された文献が見つかった場合に、その文献のパテントファミリーの審査で引用された文献の中からさらに近い内容が記載された文献が見つかる可能性があります。

外国文献検索における分類選択に利用する

外国文献のサーチではＣＰＣ等の分類を適切に選択する必要がありますが、調査対象の発明に近い内容が記載された文献のパテントファミリーに付与された分類を参考にすることで、外国文献検索における分類選択の精度向上が期待できます。

なお先行技術文献調査でスクリーニングする文献にはパテントファミリーが存在しないものも多く含まれていますので、まずは特表、再表、国際公開のようなＰＣＴルートの文献やパリルートの優先権主張を伴う文献から調べてみるとよいと思います。